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                                                                                  涂層測厚儀FMP30

測厚儀簡介：

    精度1微米涂層測厚儀FMP30可以選用磁性探頭與非磁性探頭，也就是電磁感應原理與渦流感應原理，高精度測試儀器，電磁感應原理就是基體為

鐵等磁性基材，渦流感應原理就是基材為鋁銅等非導電材料。

    DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀適合于使用在不需要全部測量數(shù)據(jù)存儲，評估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配有不同種類的探頭以適應各種應用情況。探頭自動識別。

二、FMP30 測厚儀應用范圍

三、可選 探頭：

    ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀常用渦流探頭：FTA3.3H，訂貨號：604-142，測量范圍：0 - 1200 μm，測量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5% 

     DELTASCOPE FMP30涂層測厚儀常用磁性探頭：FGAB1.3，訂貨號：604-141，測量范圍：0 - 2000 μm（45 mils）。測量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%

四、FPM30操作方式：

儀器垂直向下測量

五、精度1微米涂層測厚儀FMP30測量的測量方式：

   測量時

1、打開儀器

2、安裝電池，并打開電源。

3、調整儀器與探頭，并在基材上做歸零。

4、在樣品上測量。